Systèmes d'essai des semi-conducteurs
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Systèmes d'essai des semi-conducteurs pour le vieillissement au laser LDBI Système d'essai multicanal
Prix: Negotiable
MOQ: 1 unit
Heure de livraison: 2-8 weeks
Marque: PRECISE INSTRUMENT
Souligner:Systèmes d'essai des semi-conducteurs pour le vieillissement au laser, Systèmes d'essai de semi-conducteurs LDBI, Analyseur de dispositif d'alimentation multicanal
Systèmes d'essai des semi-conducteurs pour le vieillissement au laser LDBI Système d'essai multicanal
LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow puls... Voir plus
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Systèmes d'essai de semi-conducteurs SPA6100
Prix: Negotiable
MOQ: 1 unit
Heure de livraison: 2-8 weeks
Marque: PRECISE INSTRUMENT
Souligner:Analyseur de paramètres de semi-conducteurs de 1200 V/100 A, Systèmes d'essai de semi-conducteurs SPA6100, Analyseur de paramètres de semi-conducteurs SPA6100
Systèmes d'essai de semi-conducteurs SPA6100
L'analyseur de paramètres de semi-conducteurs SPA6100 offre des avantages tels qu'une haute précision, une large plage de mesure, une flexibilité rapide et une forte compatibilité.Ce produit prend en charge les essais simultanés de courant continu-tension... Voir plus
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Test statique de l'analyseur de puissance de 10 kV/6000A PMST pour les semi-conducteurs Mosfet BJT IGBT SiC GaN
Prix: Negotiable
MOQ: 1 unit
Heure de livraison: 2-8 weeks
Marque: PRECISE INSTRUMENT
Souligner:Analyseur de puissance de 10 kV/6000A, Test statique de l'analyseur PMST, Analyseur de l'appareil d'alimentation IGBT BJT
Test statique de l'analyseur de puissance de 10 kV/6000A PMST pour les semi-conducteurs MOSFET BJT IGBT et SiC GaN
Le système de test de paramètres statiques PMST pour les appareils électriques intègre plusieurs fonctions de mesure et d'analyse, permettant un test précis des paramètres statiqu... Voir plus
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Système de test C-V pour appareil à semi-conducteurs de 10 Hz à 1 MHz
Prix: Negotiable
MOQ: 1 unit
Heure de livraison: 2-8 weeks
Marque: PRECISE INSTRUMENT
Souligner:Appareil de puissance par semi-conducteur de 1 MHz, Dispositif d'alimentation par semi-conducteur de 10 Hz, Système de caractérisation des semi-conducteurs CV
Système de test C-V pour appareil à semi-conducteurs de 10 Hz à 1 MHz
La mesure de la capacité-tension (C-V) est largement utilisée pour caractériser les paramètres des semi-conducteurs, en particulier dans les condensateurs MOS (MOS CAP) et les structures MOSFET.La capacité d'une structure MOS est ... Voir plus
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Système de test de détecteur de courant de 1000 A CTMS Équipement de test de semi-conducteurs
Prix: Negotiable
MOQ: 1 unit
Heure de livraison: 2-8 weeks
Marque: PRECISE INSTRUMENT
Souligner:Système d'essai du capteur de courant 1000A, Équipement d'essai des semi-conducteurs CTMS, 1000A CTMS Épreuve des semi-conducteurs
Système de test de détecteur de courant de 1000 A CTMS Équipement de test de semi-conducteurs
Le système d'essai CTMS intègre une variété de fonctions de mesure et d'analyse et peut mesurer avec précision les paramètres statiques et dynamiques de divers capteurs de courant (capteurs de courant Hall,... Voir plus
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