Mesure des caractéristiques électriques des semi-conducteurs par unité SMU S100 DC 30V 1A
Prix: Negotiable
MOQ: 1 unit
Heure de livraison: 2-8 weeks
Marque: PRECISE INSTRUMENT
Souligner:Unité SMU de test des caractéristiques électriques des semi-conducteurs, Unité SMU DC S100, S100 30V 1A Mesure par SMU
Mesure des caractéristiques électriques des semi-conducteurs par unité SMU S100 DC 30V 1A
L'unité de mesure des sources S100, méticuleusement conçue par PRECISE INSTRUMENT, est un représentant exceptionnel des équipements de test nationaux.Il brise le monopole de longue date de la technologie étran... Voir plus
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Unité DP100B de mesure de la tension / du courant à double canal 30V 30A
Prix: Negotiable
MOQ: 1 unit
Heure de livraison: 2-8 weeks
Marque: PRECISE INSTRUMENT
Souligner:Mètre de source à double canal 30V 30A, DP100B Unité de mesure de la source, Unité SMU de tension et de courant
Unité DP100B de mesure de la tension / du courant à double canal 30V 30A
L'unité de mesure de la source d'impulsion de bureau à double canal DP100B de haute précision est l'unité de mesure de la source d'impulsion de bureau nouvellement développée, de haute précision, dynamique,unité de mesure de so... Voir plus
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Unité de mesure de la source d'impulsion de 18V 1A à quatre canaux sous carte CBI403 SMU
Prix: Negotiable
MOQ: 1 unit
Heure de livraison: 2-8 weeks
Marque: PRECISE INSTRUMENT
Souligner:18V 1A Mesure de la source à quatre canaux, Unité de mesure de la source d'impulsion sous-carte, CBI403 Mesure des PME
Unité de mesure de la source d'impulsion de 18V 1A à quatre canaux sous carte CBI403 SMU
La sous-carte modulaire CBI401 est un membre de la famille des unités de mesure de source (SMU) de la série CS, conçue pour une caractérisation électrique de haute précision et d'une large plage dynamique.Son ar... Voir plus
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300A 30V alimentation par impulsion haute source de courant HCPL030 pour SiC IGBT GaN HEMT test
Prix: Negotiable
MOQ: 1 unit
Heure de livraison: 2-8 weeks
Marque: PRECISE INSTRUMENT
Souligner:L'alimentation électrique par impulsion de 300A 30V, Source de courant élevé 300A 30V, Énergie à impulsion d'essai HEMT
300A 30V alimentation par impulsion haute source de courant HCPL030 pour SiC IGBT GaN HEMT test
L'alimentation par impulsion à courant élevé de la série HCPL030 est une source de courant constant à impulsion.avec relais de commande externe), prise en charge de la mesure de la tension d'impulsion à d... Voir plus
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Unité de mesure de la source d'alimentation haute tension 1200V 100mA pour l'essai de tension de panne IGBT
Prix: Negotiable
MOQ: 1 unit
Heure de livraison: 2-8 weeks
Marque: PRECISE INSTRUMENT
Souligner:Unité de mesure de la source d'alimentation haute tension, Source d'alimentation haute tension 1200V 100mA, IGBT déconnexion source d'alimentation haute tension
Source d'alimentation haute tension de 1200 V/100 mA pour l'essai de tension de panne IGBT
L'E100 est une unité de mesure de source haute tension haute performance spécialement conçue pour les environnements d'essai haute tension.et mesurer avec précision les signaux de courant faible aussi bas que ... Voir plus
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20A CW / 20A QCW Test d'alimentation au laser HCPL002 Énergie au laser à diode haute puissance
Prix: Negotiable
MOQ: 1 unit
Heure de livraison: 2-8 weeks
Marque: PRECISE INSTRUMENT
Souligner:20A QCW Épreuve de l'alimentation au laser, 20A CW Énergie au laser de test, HCPL002 L'alimentation au laser à diode
20A CW / 20A QCW Test d'alimentation au laser HCPL002 Énergie au laser à diode haute puissance
HCPL002 est une alimentation de test laser de haute puissance conçue pour répondre aux besoins de test les plus exigeants avec une technologie de pointe.et les courants CW et QCW peuvent atteindre 20A, fou... Voir plus
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1MS/S Carte d'acquisition de données A400 4 canaux Carte Daq à résolution ADC 16 bits
Prix: Negotiable
MOQ: 1 unit
Heure de livraison: 2-8 weeks
Marque: PRECISE INSTRUMENT
Souligner:A400 Carte d'acquisition de données, Carte Daq à résolution 16 bits ADC, Carte d'acquisition de données 4 canaux
1MS/S Carte d'acquisition de données A400 4 canaux Carte Daq à résolution ADC 16 bits
La carte d'acquisition de données A400 est un type de carte plug-in conçue et développée indépendamment par Psysi, qui prend en charge l'échantillonnage à taux variable et le stockage de données de grande capacité.... Voir plus
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Systèmes d'essai des semi-conducteurs pour le vieillissement au laser LDBI Système d'essai multicanal
Prix: Negotiable
MOQ: 1 unit
Heure de livraison: 2-8 weeks
Marque: PRECISE INSTRUMENT
Souligner:Systèmes d'essai des semi-conducteurs pour le vieillissement au laser, Systèmes d'essai de semi-conducteurs LDBI, Analyseur de dispositif d'alimentation multicanal
Systèmes d'essai des semi-conducteurs pour le vieillissement au laser LDBI Système d'essai multicanal
LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow puls... Voir plus
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